1.「A Method for Evaluating Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using a Micro-Sliding Mechanism 123451232- Minimal Sliding Amplitudes against Input Waveforms - 」 「微摺動機構を用いた電気接点劣化現象の評価方法」 |
和田 真一(TMCシステムス)、澤 孝一郎(日本工業大学) |
2.「大気暴露した銅接点対の接触抵抗−荷重特性に対する表面粗さの影響」 |
浅井 聡、関川 純哉(静岡大学 大学院総合科学技術研究科 工学専攻 電気電子工学コース) |
上記の公演時間には質疑討論を含みます。 |
おねがい 現在、研究会での発表を募集しています。 研究発表の他に、企業等の会社紹介、製品紹介、その他に電気接触現象や関係するデバイスの 解説等を募集しています。ふるって応募して下さい。 |
連絡先名称 | 「継電器・コンタクトテクノロジ研究会」
Research and Engineering Society for Electromechanical Components and Contact Technology in Japan 事務局 玉井 輝雄 |
t.tamai@wave.plala.or.jp | |
Tel+ Fax | 04−7113−4020 |
研究会の ホームページ |
http://www.elcontech.jp/ |